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BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

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基本性能指標


粒徑檢測

  原理  動態(tài)光散射技術(shù)
  粒徑范圍  0.3 nm – 10 μm 
  樣品量  40 μL – 1 mL 
  檢測角度  173 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

  原理  相位分析光散射技術(shù)
  檢測角度  1
  Zeta范圍  無實際限制
  電泳遷移率范圍  >±20 μ.cm/V.s
  電導率范圍  0 - 260 mS/cm
  Zeta測試粒徑范圍  2 nm – 110 μm  

分子量測試

  分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da    

微流變測試

  測試能力  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> 

粘度和折光率測試

  粘度范圍  0.01 cp – 100 cp
  折光率范圍  1.3-1.6

趨勢測試

  時間和溫度 

系統(tǒng)參數(shù)

  溫控范圍  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
  冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
  標準激光光源  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
  相關(guān)器  最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍
  檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)
  光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動  

軟件

 中文和英文 符合21CFR Part 11



檢測參數(shù)


●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●流體力學直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度



檢測技術(shù)

●動態(tài)光散射

●電泳光散射

●靜態(tài)光散射




選配件


BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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相關(guān)技術(shù)    


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